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有关LED照明灯具的分类、性能指标及可靠性等,美国“能源之星”中已有很具体的规定[1],可靠性指标中,主要规定LED照明灯具寿命3.5万小时,在全寿命期内色度变化在CIE1976(u,v)中0.007以内。美国SSL计划中规定白光LED器件寿命在2010-2015年中为5万小时🍾。国内对LED照明灯具的寿命要求一般也提到3~3.5万小时🦹🏻♀️。
上述提到LED灯具寿命和色保持度的指标,从目前来看是很高的,实际上很多LED灯具还达不到这个要求🫵🏼,因为LED灯具所涉及的技术问题很多🦐、很复杂🦛♋️,其中主要是系统可靠性问题🏃🏻♀️🕢。
LED器件失效一般分为二种:本质失效和从属失效🙇🏻♀️。本质失效指的是LED芯片引起的失效🎑,又分为电漂移和离子热扩散失效🧝🏿♂️。从属失效一般由封装结构材料、工艺引起,即封装结构和用的环氧➞👇🏿、硅胶👳🏻、导电胶、荧光粉、焊接🪮、引线、工艺、温度等因素引起的。
某些电子器件在一定温度范围内🏺,温度每升高10℃,其主要技术指标下降一半(或下降1/4)🧑🦼👨🏽🍳。实践证明,LED器件热沉温度在50℃至80℃时,LED寿命值基本符合十度法则。最近也有媒体报道💚:LED器件温度每上升2℃,其寿命下降10%,当温度从63℃上升至74℃时🏂🏻,平均寿命下降3/4🧖🏻♂️⛲️。因为器件封装工艺不同,完全可能出现这种现象。
LED寿命是指在规定工作条件下,光输出功率或光通量衰减到初始值的70%的工作时间,同时色度变化保持在0.007内。
LED平均寿命的意义是LED产品失效前的工作时间的平均值,用MTTF来表示,它是电子器件最常用的可靠性参数。
可靠性试验内容包括可靠性筛选、环境试验、寿命试验(长期或短期)。沐鸣这里所讨论的只是寿命试验📶,其他项目暂不考虑👱🏿♀️。
为了确认LED灯具寿命是否达到3.5万小时🏸,需要进行长期寿命试验,目前的做法基本上形成如下共识🙆🏽♀️:因GaN基的LED器件开始的输出光功率不稳定🚣♂️,所以按美国ASSIST联盟规定,需要电老化1000小时后👩🏿🦱🤸🏿♂️,测得的光功率或光通量为初始值🛶。之后加额定电流3000小时,测量光通量(或光功率)衰减要小于4%👩⚕️,再加电流3000小时,光通量衰减要小于8%,再通电4000小时👀,共1万小时👌🏽,测得光通量衰减要小于14%,即光通量达到初始值的86%以上。此时才可证明确保LED寿命达到3.5万小时。
电子器件加速寿命试验可以在加大应力(电功率或温度)下进行试验🦵🏿,这里要讨论的是采用温度应力的办法,测量计算出来的寿命是LED平均寿命🤹🏿♂️,即失效前的平均工作时间🧗🏻♂️。采用此方法将会大大地缩短LED寿命的测试时间🆖🧧,有利于及时改进、提高LED可靠性。加温度应力的寿命试验方法在文章[2]中已详细论述,主要是引用“亚玛卡西”(yamakoshi)的发光管光功率缓慢退化公式,通过退化系数得到不同加速应力温度下LED的寿命试验数据🎈,再用“阿伦尼斯”(Arrhenius)方程的数值解析法得到正常应力(室温)下的LED的平均寿命,简称“退化系数解析法”,该方法采用三个不同应力温度即165℃👰🏿♀️、175℃和185℃下👨🏿⚖️,测量的数据计算出室温下平均寿命的一致性👩🏻🦯➡️。该试验方法是可靠的,目前已在这个研究成果上,起草制定“半导体发光二极管寿命的试验方法”标准🙋♀️,国内一些企业也同时研制加速寿命试验的设备仪器。
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